Ingun OTU-KS-NV-007-004-G2, NanoVTEP G2 SingleProbe B/C, SKU: 114388

• Komponente für den Opens-Test, zur kapazitiven Prüfung von Halbleiterchips auf Durchbrüche, Kurzschlüsse und Lötfehler
• Geeignet für alle Keysight 307x-Testsysteme mit Softwareversion 9.2 oder höher
• Verbesserte Wiederholgenauigkeit, Testabdeckung und Fehlererkennung im Vergleich zur VTEP-Technologie

Technische Daten

• Produktgruppe: Opens Tests
• Baureihe: OTU
• Typ: Keysight Vectorless Test
• Ausführung: nanoVTEP Gen2 SP B/C Size
• Zubehörtyp: Ausbauzubehör
• Auslieferzustand: Inkl. nanoVTEP Gen2
• Breite: 4 mm
• Höhe: 48.7 mm
• Temperatur min.: + 10 °C
• Temperatur max.: + 60 °C
• RoHS-konform: RoHS-3