Ingun OTE-KS-NV-064-MUX-REF, nanoVTEP ConnectCheck Signal C, SKU: 108711

• Komponente für den Opens-Test, zur kapazitiven Prüfung von Halbleiterchips auf Durchbrüche, Kurzschlüsse und Lötfehler
• Geeignet für alle Keysight 307x-Testsysteme mit Softwareversion 9.2 oder höher
• Verbesserte Wiederholgenauigkeit, Testabdeckung und Fehlererkennung im Vergleich zur VTEP-Technologie
• 2x 64 Kontakte, zum Anschluss von bis zu 64 nanoVTEP Prüfsonden

Technische Daten

• Produktgruppe: Opens Tests
• Baureihe: OTE
• Typ: Keysight Vectorless Test
• Ausführung: nanoVTEP ConnectCheck Signal C
• Zubehörtyp: Ausbauzubehör
• Breite: 35.8 mm
• Höhe: 17.4 mm
• Temperatur min.: + 10 °C
• Temperatur max.: + 60 °C
• RoHS-konform: RoHS-3